手機(jī)翻蓋壽命試驗機(jī) 翻蓋壽命檢測儀

手機(jī)翻蓋壽命試驗機(jī) 翻蓋壽命檢測儀

型號：TCOM

 晶體少子壽命測試儀型號：LT-200

LT-200數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀簡介 
1. 儀器應(yīng)用范圍及說明 
本設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業(yè)已運用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗，經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測量；也可對硅片進(jìn)行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，因此制樣特別簡便。 
昆德公司數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點： 
可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進(jìn)行測量，儀器可按需方提供的有標(biāo)稱值的校準(zhǔn)樣品調(diào)試壽命值。 
1.1 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。 
1.2 液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時在線顯示光電導(dǎo)衰退波形。 
1.3 配置的紅外光源：0.904～0.905μm波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強(qiáng)較強(qiáng)，有利于測量低阻太陽能級硅晶體少數(shù)載流子體壽命，脈沖功率30W。 
1.4 專門為消除陷進(jìn)效應(yīng)增加了紅外低光照。 
1.5 測量范圍寬廣 
測試儀可直接測量： 
a、研磨或切割面：電阻率≥0.5Ω•cm的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。 
b、拋光面：電阻率在0.5～0.01Ω•cm范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶厚度小于1mm的拋光片。 
2. 設(shè)備技術(shù)要求及性能指標(biāo) 
2.1 少子壽命測試范圍：0.5μs~6000μs              
2.2 樣品的電阻率范圍：ρ﹥0.1Ω·cm（非回爐料）               
2.3 測試速度：1分鐘/片                       
2.4 紅外光源波長： 0.904～0.905μm                    
2.5 高頻振蕩源：用石英諧振器，振蕩頻率：30MHZ 
2.6 前置放大器，放大倍數(shù)約25，頻寬2HZ-2MHZ 
2.7 可測單晶尺寸：斷面豎測： 
直徑25mm-150mm；厚度2mm-500mm 
縱向臥測：直徑5mm-20mm；長度50mm-200mm 
2.8 測量方式：采用數(shù)字示波器直接讀數(shù)方式 
2.9 測試分辨率：數(shù)字存儲示波器zui小分辨率0.01μs  
2.10 設(shè)備重量：20 Kg  
2.11 儀器電源：電源電壓類型：單相210～230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩(wěn)壓，不能與未做保護(hù)措施的大功率、高頻設(shè)備共用電源

產(chǎn)品名稱：汽車密封條磨耗試驗機(jī) 產(chǎn)品型號：TH-7088B

汽車密封條磨耗試驗機(jī) 型號：TH-7088B 

汽車密封條磨耗試驗機(jī)

一、用途及技術(shù)參數(shù)

(1).用途：

TH-7088B型汽車密封條磨耗試驗機(jī)適用于各種汽車用植絨和涂層類導(dǎo)槽密封條及海綿涂層的門框密封條、門密封條、行李箱密封條等產(chǎn)品的耐磨耗試驗。

(2).技術(shù)參數(shù):

1 型式：6錘電動式

2 試片：各類密封條產(chǎn)品上取樣；

3荷重：

250g（磨頭＋磨桿）

325g（磨頭＋磨桿＋鋼印325砝碼）

500g（磨頭＋磨桿＋鋼印500砝碼）

1000g（磨頭＋磨桿＋鋼印1000砝碼）

3000g（磨頭＋磨桿＋鋼印1000砝碼＋鋼印1000+砝碼2只）

4磨耗行程：0-160mm

5磨耗頭可調(diào)高度：0-50mm

     6磨耗速度調(diào)節(jié)范圍： 10-90次/分鐘

7設(shè)備體積：1020X850X630mm

設(shè)備結(jié)構(gòu)特點

  1.液晶屏顯示：

1.1觸摸屏一級設(shè)置：

         A.設(shè)置磨耗試驗速度

    B.設(shè)置磨耗行程  

    1.2觸摸屏二級設(shè)置：

         A單獨設(shè)定每個試驗?zāi)ヮ^對應(yīng)的產(chǎn)品名稱及產(chǎn)品批次.

    B單獨設(shè)定每個試驗?zāi)ヮ^負(fù)載質(zhì)量.

   C記錄每個試驗?zāi)ヮ^試驗次數(shù)。（單個磨頭到達(dá)試驗次數(shù)時提示提起到達(dá)試驗次數(shù)的試驗?zāi)ヮ^）

   D可設(shè)定磨頭種類（如：金屬磨頭，玻璃磨頭，不銹鋼磨頭等）

    E可設(shè)定磨耗方式（如：濕磨，干磨）

   F擴(kuò)展設(shè)定磨耗值（備用）：（取預(yù)磨平均值清零，磨耗試驗結(jié)束得出磨耗值）

2.底座運行采用輪式直線導(dǎo)軌，接觸面為線接觸，相對于滾珠式直線導(dǎo)軌噪音更小，同時穩(wěn)定性好。

3.摩擦頭支架垂直安裝，負(fù)載砝碼直接安裝在摩擦頭支架上。

4.摩擦頭支架采用進(jìn)口直線導(dǎo)軌，無間隙，對試樣無多余附著力。5.整體翻轉(zhuǎn)式摩擦頭支架座，需要更換磨頭時可拔出鎖緊銷旋轉(zhuǎn)90°，非常方便更換磨頭。

6.在試樣安裝平臺上，具有固定試樣的開槽壓板，兩端用肘式制鉗來固定壓板。

  7.試驗結(jié)果可打印，打印結(jié)果包括：磨耗速度，磨耗行程，每個磨頭對應(yīng)的試樣名稱及批次，每個試樣的負(fù)載質(zhì)量，每個試樣的磨耗次數(shù)，每個試樣的磨頭種類及磨耗方式等等。

三、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

TH-7088B汽車密封條磨耗試驗機(jī)可滿足國內(nèi)外的各類標(biāo)準(zhǔn)：如德國大眾技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)TL52057、TL52417中的PV3313磨耗標(biāo)準(zhǔn)及L52641技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中的PV3366磨耗標(biāo)準(zhǔn)，中國汽車行業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)《QC/T711-2004汽車密封條植絨耐磨性試驗方法》、標(biāo)準(zhǔn)《GB/T21282-2007乘用車用橡塑密封條》等各類汽車密封條磨耗試驗標(biāo)準(zhǔn)。

四、質(zhì)量保證

質(zhì)量保證事項

本試驗機(jī)自出廠日期起免費服務(wù)期限為一年。

五、備注

本汽車密封條磨耗試驗機(jī)可根據(jù)用戶需求改進(jìn)，需要加以補(bǔ)充或更正，使用方可以提供圖紙或其它書面文字來進(jìn)行說明。

產(chǎn)品名稱：多功能EDA教學(xué)仿真實驗儀 教學(xué)仿真實驗儀 產(chǎn)品型號： PLH-12

多功能EDA教學(xué)仿真實驗儀 教學(xué)仿真實驗儀 型號： PLH-12

產(chǎn)品簡介:

• 本產(chǎn)品是我公司根據(jù)各高校多年來在本科生、研究生開設(shè)EDA及數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計自動化課程教學(xué)實踐中研制開發(fā)的；
• 應(yīng)用對象主要面向理工科本科生、研究生EDA實驗及設(shè)計、也可用于科研人員從事單片機(jī)及可編程邏輯器件的數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)設(shè)計；
• 系統(tǒng)提供了豐富的開放式的軟硬件資源及中文使用說明書和演示實例，為用戶提供了良好的運用CPLD/FPGA芯片和VHDL語言進(jìn)行編程設(shè)計、仿真、下載和現(xiàn)場調(diào)試的開發(fā)環(huán)境；
• 該多功能開發(fā)系統(tǒng)滿足從簡單的數(shù)字電路到復(fù)雜的數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計實驗，開發(fā)驗證，提高效率，芯片保密可靠。

特色配置:

⑴含CPLD和FPGA兩套適配器 
⑵信號源頻率范圍：0.5Hz-50MHz,共32檔次
⑶配置MAX+PLUSⅡ和QuartusII兩套軟件平臺。
⑷主板硬件資源全部開放，可供學(xué)生自行設(shè)計綜合性實驗和創(chuàng)新性畢業(yè)設(shè)計。

主要模塊:

• 128×64點陣LCD液晶屏（帶背光）；
• 16×16點陣的LED漢字模塊；
• 8位7段數(shù)碼管；
• EPM7128SLC84-15控制芯片及適配器；
• IN51系列單片機(jī)；
• A/D， D/A轉(zhuǎn)換模塊；
• RS232串行通信接口；
• 交通燈、流水燈、蜂鳴器；
• 0.25Hz-50MHz寬帶信號源；
• 去抖信號源、高低電平輸出控制開;
• 4×4鍵盤、紅外線收發(fā)模塊、彩色流水燈、USB接口、DSP-JTAG
• EPF10K10LC84-4控制芯片及適配器（選件）
• EPM7064SLC44-10控制芯片及適配器（選件）

主要特點:

● 多功能：系統(tǒng)的軟硬件配置既可實現(xiàn)可編程邏輯器件設(shè)計、編程、仿真、下載，可完成8位單片機(jī)（51系列）的開發(fā)設(shè)計，充分體現(xiàn)了MCU+FPGA/CPLD的SOC的的設(shè)計理念，實現(xiàn)了一機(jī)多用。
● 開放性：以開放式的系統(tǒng)總線結(jié)構(gòu)和各功能實驗?zāi)K構(gòu)成, 支持ALTERA、AMD、XILINX、LATTICE，ATMEL等公司不同系列、不同門數(shù)規(guī)模的芯片。*克服了大多數(shù)傳統(tǒng)產(chǎn)品只能進(jìn)行演示性實驗，而缺乏學(xué)生設(shè)計的硬件資源弊端，產(chǎn)品在系統(tǒng)板上對各類電源、信號源、外設(shè)套件資源等均提供了插座及接口，方便靈活地通過開關(guān)切換實現(xiàn)單片機(jī)控制系統(tǒng)、VHDL編程演示，或進(jìn)行各模塊的獨立連接和設(shè)計。
● 實驗內(nèi)容多樣化：既有普通教學(xué)實驗，又有綜合性開發(fā)設(shè)計實驗。所有實驗實例均來自各高校多年來在本科生、研究生教學(xué)實踐，編程實例均已通過了編譯、仿真、下載調(diào)試。內(nèi)容安排依照基礎(chǔ)練習(xí)→設(shè)計入門→實驗與實踐→綜合設(shè)計→應(yīng)用開發(fā)這*程為設(shè)計思想。使學(xué)生從簡單模仿實驗開始,逐漸鍛煉成為產(chǎn)品開發(fā)的精英。
● 豐富具有特色的硬件資源配置：考慮到學(xué)生進(jìn)行綜合性開發(fā)設(shè)計的實際需要，主板除了常規(guī)的硬件模塊外,還專門配置了4.194302MHz及50MHz晶振，可提供0.25Hz～50MHz寬頻帶方波信號,又提供了兩路單脈沖消抖信號及高、低電平穩(wěn)定信號，消除了輸入信號時產(chǎn)生的瞬間抖動干擾。配置了+12、-12V、+5V及+1～+12V可調(diào)電源以滿足各類實驗的需要。
● 兼容性和擴(kuò)充性：系統(tǒng)主板配置有支持各類套件如DSP仿真器的JTAG接口、USB接口、PS/2接口、二次開發(fā)的擴(kuò)展接口及紅外線接收、發(fā)送模塊及接口，從而大大拓寬了系統(tǒng)的應(yīng)用范圍。實驗系統(tǒng)芯片編程利用PC機(jī)并行口通信，不需要編程器，采用無源下載線。